CONTURA G2
一机多用的扫描平台
物超所值的CONTURA G2非常适合中小型生产企业,其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST扫描技术使工件的形状检验可以最快速获得高品质和测量结果。可及早发现加工中的变化,确保产品质量并将废品率降至***程度。
重要特征
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| CONTURA G2 direkt | CONTURA G2 RDS | CONTURA G2 aktiv | | 坚固耐用的机械设计 机器技术 CONTURA G2 direkt:蔡司扫描技术的入门级机型,配置VAST XXT扫描探头,可测量多种工件 CONTURA G2 RDS: 蔡司RDS配置VAST XXT扫描探头,可自由快速旋转探针,扫描范围可达到任何角度位置 CONTURA G2 aktiv: 具有自定心功能,可测量深孔元素,对尺寸,形状及位置的高可靠性测量,主要得益于灵活的VAST XT探头技术 选项
设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度,无须再次校准 采用HTG(宽温带)机型,可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度 采用U-STONE技术,将测量有效高度提升200mm,扩大Z轴测量空间
| | 测量范围(in mm)
700 x 700 (1000) x 600 1000 x 1200 – 2100 x 600 1000 x 1200 – 2100 x 600 U型花岗岩平台 |
可配置的传感器
RDS Sensor Carrier | VAST XXTwith/without RDS | ViSCAN | DTS | DT DynaTouch | VAST XT |
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